特許
J-GLOBAL ID:200903037743280829
蛍光測定装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-089566
公開番号(公開出願番号):特開平10-281994
出願日: 1997年04月08日
公開日(公表日): 1998年10月23日
要約:
【要約】【課題】 蛍光の測定精度を向上させることができる蛍光測定装置を提供することを目的とする。【解決手段】 本発明は、マイクロプレート4の底面4a側から、各ウェル3内の対象物Sに励起光を照射し各対象物Sからの蛍光を底面4a側で検出する蛍光測定装置において、励起光を発生する励起光発生手段5と、各ウェル3に対し出射端面がウェル3に対応する底面4aに対峙され、入射端面で励起光発生手段5からの励起光を取り込む光導入用ファイバ60と、各ウェル3に対し入射端面がウェル3に対応する底面4aに対峙され、出射端面でウェル3内の対象物Sからの蛍光を射出する光検出用ファイバ61と、光検出用ファイバ61の出射端面からの蛍光を検出する蛍光検出手段18とを備え、光導入用ファイバ60の開口数が光検出用ファイバ61の開口数より小さくなっている構成である。
請求項(抜粋):
複数のウェルが形成されたマイクロプレートの底面側から、前記各ウェル内の測定対象物に励起光を照射し前記各測定対象物からの蛍光を前記マイクロプレートの底面側で検出する蛍光測定装置において、前記励起光を発生する励起光発生手段と、前記各ウェルに対し出射端面が前記ウェルに対応する前記マイクロプレートの前記底面に対峙され、入射端面で前記励起光発生手段からの励起光を取り込む光導入用ファイバと、前記各ウェルに対し入射端面が前記ウェルに対応する前記マイクロプレートの前記底面に対峙され、出射端面で前記ウェル内の前記測定対象物からの蛍光を射出する光検出用ファイバと、前記光検出用ファイバの出射端面から射出される蛍光を検出するための蛍光検出手段とを備え、前記光導入用ファイバの開口数が前記光検出用ファイバの開口数より小さくなっていることを特徴とする蛍光測定装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N 21/64 Z
, G01N 21/03 Z
引用特許:
審査官引用 (3件)
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特開平2-028543
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特開昭60-040955
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特開昭55-048642
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