特許

J-GLOBAL ID：200903037752675771

ドットパターンの検出および評価装置および方法

発明者： ペーター フエデルル
出願人/特許権者： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
代理人 (1件)： 富村 潔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-355984
公開番号（公開出願番号）：特開平9-270012
出願日： 1996年12月25日
公開日（公表日）： 1997年10月14日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】 半導体メモリチップの故障パターンのようにドットの数が多い場合でも確実に解析しパターンに分類する。【解決手段】 計算機で記憶されたドットパターンのデータから、座標軸の各座標値に対する座標カウンタSZ1〜SZ1024,ZZ1〜ZZ256が決定され、座標カウンタSZ1〜SZ1024,ZZ1〜ZZ256の値が検出されたドットの数から形成され、対応付けられているニューロン回路網に対し、座標カウンタSZ1〜SZ1024,ZZ1〜ZZ256から形成された成分を有するの入力ベクトルが入力され、ニューロン回路網が入力ベクトルと例ドットパターンに基づく設定ベクトルとの比較により出力ベクトルを計算し、求められた出力ベクトルを用いてドットパターンの分類値を出力する。

請求項（抜粋）：

多次元座標系に配置された空間的に離散的なドットパターンであって、パターンの各ドットが少なくとも2つの識別可能な状態値をとるドットパターンを検出かつ評価するための装置において、多次元の空間的なドットパターンの各ドットの座標値および状態値を記録するための測定装置(1、2、3、5、6)と、多次元の空間的なドットパターンの各ドットの座標値および状態値に相応するデータを記憶するためのメモリ(7)と、メモリ(7)に対応付けられている計算機(6、10)とを含んでおり、この計算機に記憶されたデータが入力され、またこの計算機で記憶されたデータから座標軸の各座標値に対する座標カウンタ(SZ1〜SZ1024、ZZ1〜ZZ256)が決定され、その際に座標カウンタ(SZ1〜SZ1024、ZZ1〜ZZ256)の値が予め定められた状態値を有するこの座標の検出されたドットの数から形成され、また計算機(6、10)に対応付けられているニューロン回路網(NN1、NN2、NN3)を含んでおり、前記ニューロン回路網に空間的に離散的なドットパターンの各ドットの計算された座標カウンタ(SZ1〜SZ1024、ZZ1〜ZZ256)から形成された成分(E1〜E7)を有するn次元の入力ベクトルが入力され、前記ニューロン回路網が測定されたドットパターンの計算された入力ベクトルと例ドットパターンに基づいて得られた記憶された設定ベクトルとの比較により出力ベクトルを計算し、また求められた出力ベクトルを用いて測定されたドットパターンの分類値を対応付けかつ出力することを特徴とするドットパターンの検出および評価装置。

IPC (6件)：

G06T 7/00 ,  G01R 31/28 ,  G06F 11/22 350 ,  G06F 15/18 560 ,  G11C 29/00 303 ,  G11C 29/00

FI (8件)：

G06F 15/70 465 A ,  G06F 11/22 350 Z ,  G06F 15/18 560 C ,  G11C 29/00 303 C ,  G11C 29/00 303 Z ,  G01R 31/28 M ,  G01R 31/28 B ,  G06F 15/62 405 A

引用特許：

審査官引用 (1件)

• パターン認識装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-165298   出願人：株式会社神戸製鋼所