検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-285812
公開番号（公開出願番号）：特開2009-115479
出願日： 2007年11月02日
公開日（公表日）： 2009年05月28日
要約：

【課題】1次元イメージセンサカメラ利用の検査装置において全検査ウィンドウの均一条件下自動検査を実現する。【解決手段】 1次元イメージセンサカメラで基板を撮像し、基板上の部品の実装位置とサイズと実装方向に従って部品領域を設定し、部品領域を周囲に自動拡大して検査ウィンドウを作成する際の拡大率を教示し、基準基板全面画像の検査ウィンドウ内画素値と、検体基板全面画像の対応する検査ウィンドウ内画素値とを、全検査ウィンドウについて均一の画素密度で差分画像処理し、均一の良否判定基準で品質を判定することにより、簡単な教示で過検出を最少化した実装基板の自動検査ができるようにした。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

1次元イメージセンサカメラに対して、イメージセンサのピクセル配置に直交する方向に基板を相対移動することによって基板画像を獲得する撮像手段と、基板上の部品の実装位置とサイズと実装方向に従って部品領域を設定する領域設定手段と、部品領域を周囲に自動拡大して検査ウィンドウを作成する際の拡大率を教示し、差分画像処理に適用する画素密度と良否判定基準を設定する教示手段と、基準基板全面画像の検査ウィンドウ内画素値と、検体基板全面画像の対応する検査ウィンドウ内画素値とを、差分画像処理する画像処理手段と、全検査ウィンドウについて均一の画素密度と良否判定基準で部品の実装品質とはんだ付品質を判定する判定手段とより成る検査装置。

IPC (3件)：

G01N 21/956 , H05K 3/34 , G06T 1/00

FI (3件)：

G01N21/956 B , H05K3/34 512B , G06T1/00 305A

Fターム (21件)：

2G051AA65 , 2G051AB14 , 2G051CA03 , 2G051DA06 , 2G051EA08 , 2G051EB01 , 2G051ED15 , 2G051ED23 , 5B057AA03 , 5B057BA02 , 5B057CA08 , 5B057CA12 , 5B057CA16 , 5B057CC03 , 5B057CD05 , 5B057DA03 , 5B057DA16 , 5B057DC06 , 5E319CC22 , 5E319CD53 , 5E319GG15

引用特許：

出願人引用 (5件)

検出装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-084161 出願人：小林茂樹
検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2004-075494 出願人：岡村幸太郎
検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2005-061849 出願人：株式会社形相研究所

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