パネル面外変位測定装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：明田莞
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-144762
公開番号（公開出願番号）：特開2000-337821
出願日： 1999年05月25日
公開日（公表日）： 2000年12月08日
要約：

【要約】【課題】簡易な設備、簡単な手法による測定を可能とすることにより、効率的でしかも測定精度が高く、安全性にも優れる改良されたパネル面外変位測定装置の提供。【解決手段】直筒状のパイプを同一方向に平面状に並べることにより形成されたパネル1の面の面外変位を計測する装置である。パイプPの長手方向に対して鉛直、パネル1面に対して非鉛直の斜め前方向から、パネル1面を撮影する撮像手段2と、パネル1面に対して撮像手段2と同じ側で撮像手段2に比しパネル1面に近い斜め前方位置に配置され、撮像手段2が撮影する範囲に参照光を照射する投光手段3と、撮像手段2で撮影された画像を解析し、投光手段3からの参照光による明暗の差に基づき各パイプPの画像の長手方向に現れる明暗境界部に相応したエッジ画像9を検出する画像処理手段5と、面外に変形が存しない正常な基準パネル面のエッジ画像9sのパターンと画像処理手段5で検出されたエッジ画像9のパターンを比較してパイプPの面外変位を計算する演算手段6とを含んで構成される。

請求項（抜粋）：

直筒状のパイプを同一方向に平面状に並べることにより形成されたパネルの面の面外変位を計測する装置において、前記パイプの長手方向に対して鉛直、かつ、パネル面に対して非鉛直の斜め前方向から、パネル面を撮影する撮像手段と、パネル面に対して前記撮像手段と同じ側で該撮像手段に比しパネル面に近い斜め前方位置に配置され、前記撮像手段が撮影する範囲に参照光を照射する投光手段と、前記撮像手段で撮影された画像を解析し、前記投光手段からの参照光による明暗の差に基づき各パイプの画像の長手方向に現れる明暗境界部に相応したエッジ画像を検出する画像処理手段と、面外に変形が存しない正常な基準パネル面におけるエッジ画像のパターンと画像処理手段で検出されたエッジ画像のパターンを比較してパイプの面外変位を計算する演算手段とを含むことを特徴とするパネル面外変位測定装置。

IPC (3件)：

G01B 11/16 , F28D 1/053 , G06T 7/00

FI (3件)：

G01B 11/16 H , F28D 1/053 Z , G06F 15/62 400

Fターム (31件)：

2F065AA09 , 2F065AA12 , 2F065AA49 , 2F065AA65 , 2F065BB05 , 2F065BB08 , 2F065BB18 , 2F065CC00 , 2F065DD00 , 2F065FF04 , 2F065FF09 , 2F065FF42 , 2F065GG02 , 2F065HH03 , 2F065HH12 , 2F065JJ03 , 2F065JJ08 , 2F065JJ26 , 2F065QQ25 , 2F065QQ28 , 2F065SS02 , 2F065SS03 , 2F065SS13 , 3L103AA37 , 3L103BB20 , 3L103DD08 , 5B057DA07 , 5B057DB02 , 5B057DC02 , 5B057DC16 , 5B057DC36

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