特許
J-GLOBAL ID:200903037846676860
ショットキーバリアダイオード
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
山口 巖
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-090759
公開番号(公開出願番号):特開平9-283771
出願日: 1996年04月12日
公開日(公表日): 1997年10月31日
要約:
【要約】【課題】高耐圧、小漏れ電流で、且つ、順電圧降下を低下させる。【解決手段】n+ シリコン基板1上にエピタキシャル成長によりn層2を形成し、このn層2の表面層にリング状のp領域5を形成し、n層2の表面およびp領域5の表面に酸化シリコン膜3を被覆し、この酸化シリコン膜3を選択的に除去して、p領域5の一部の表面とp領域5に囲まれるn層2の表面を露出し、この露出面にモリブデンやクロムなどの金属膜4をn層2内部方向では凸状になるように形成し、ショットキー接合を形成する。
請求項(抜粋):
第1導電形の第1領域の表面層に第2導電形の第2領域が閉ループ状に選択的に形成され、閉ループ状の第2領域の一部の表面と閉ループで囲まれる第1領域の表面とが金属膜で被覆され、金属膜と第1領域との接合がショットキー接合であるショットキーバリアダイオードにおいて、金属膜と第1領域との接合形状が第1領域の内部方向に凸状であることを特徴とするショットキーバリアダイオード。
FI (3件):
H01L 29/48 F
, H01L 29/48 M
, H01L 29/48 G
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