特許

J-GLOBAL ID：200903037908124924

半導体集積回路

発明者： 山本 武史
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 宮井 暎夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-293074
公開番号（公開出願番号）：特開2003-098229
出願日： 2001年09月26日
公開日（公表日）： 2003年04月03日
要約：

【要約】【課題】 従来、LSIテスタを用いて機能ブロック群が複合的に動作する半導体集積回路の特定の機能ブロックの電源電流値を測定したい場合、測定したい状態で測定したい特定の機能ブロックを選択して電源電流値を測定することが困難であった。【解決手段】 測定タイミングをLSIテスタ206に知らせる測定トリガ信号209を出力できる測定トリガ信号発生回路204を設け、かつ、測定したい特定の機能ブロックを含む場合と含まない場合との動作を選択できる動作選択回路210を設けることによりLSIテスタ206が測定トリガ信号209を検出して、半導体集積回路201が測定したい動作をしているタイミングでの電源電流を測定することができ、また異なる動作での電源電流値を測定してその差を取ることにより特定の機能ブロックの正確な電源電流値を測定することができる。

請求項（抜粋）：

動作テスト実行時に測定対象の機能ブロックを動作させるテスト回路と、動作テスト実行時のあるステータスと予め設定しておいたステータスとが一致した場合にLSIテスタに電源電流を測定すべきことを知らせる機能を有する測定トリガ信号発生回路を備えた半導体集積回路。

IPC (5件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/26 ,  G01R 31/3185 ,  H01L 21/822 ,  H01L 27/04

FI (4件)：

G01R 31/26 G ,  G01R 31/28 V ,  G01R 31/28 W ,  H01L 27/04 T

Fターム (16件)：

2G003AA07 ,  2G003AB02 ,  2G003AH05 ,  2G132AA01 ,  2G132AD01 ,  2G132AK11 ,  2G132AK15 ,  2G132AK22 ,  2G132AL11 ,  5F038DF04 ,  5F038DF05 ,  5F038DF11 ,  5F038DT02 ,  5F038DT09 ,  5F038DT11 ,  5F038EZ20