特許
J-GLOBAL ID：200903037911208764
放射性表面汚染検出装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-298672
公開番号（公開出願番号）：特開平7-151860
出願日： 1993年11月29日
公開日（公表日）： 1995年06月16日
要約：
【要約】【目的】 シンチレーションファイバを用いた大面積型の放射性表面汚染検出装置において、検出限界を小さくし、光電子増倍管の数を少なくする。【構成】 複数のファイバユニット12〜18が、右端部において順次2ユニットずつ右端隣接対を形成し、かつ左端部において前記右端隣接対に対して1ユニットずれて順次2ユニットずつ左端隣接対を形成する。前記各右端隣接対ごとに光電子増倍管22及び24がそれぞれ接続され、前記各左端隣接対ごとに光電子増倍管21、23及び25がそれぞれ接続される。そして、各ファイバユニットごとに左右の光電子増倍管による同時計数が行われる。この構成によれば、ファイバユニットとほぼ同数の光電子増倍管で、ファイバユニットごとの同時計数を行うことができる。
請求項（抜粋）：
複数のシンチレーションファイバを面状にそろえて成るファイバアレイを含み、前記ファイバアレイは所定数のファイバから成る複数のファイバユニットに分割され、前記複数のファイバユニットは、右端部において順次2ユニットずつ右端隣接対を形成し、かつ左端部において前記右端隣接対に対して1ユニットずれて順次2ユニットずつ左端隣接対を形成し、前記各右端隣接対ごとに右端光電子増倍管が接続され、前記各左端隣接対ごとに左端光電子増倍管が接続され、各ファイバユニットごとに左右端の光電子増倍管による同時計数が行われることを特徴とする放射性表面汚染検出装置。
IPC (3件)：
G01T 1/00
, G01T 1/169
, G01T 1/20
