特許
J-GLOBAL ID：200903037912318296
接触式3次元計測方法およびそのシステム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 明夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-123415
公開番号（公開出願番号）：特開平9-304003
出願日： 1996年05月17日
公開日（公表日）： 1997年11月28日
要約：
【要約】【課題】本課題は、数mを超える大形部品または大形装置からなる被対象物の様々な寸法または形状を、1mm以下の高精度で計測することができる接触式3次元計測方法およびそのシステムを提供することにある。【解決手段】本発明は、3次元の被対象物1上の異なる領域の各々に対して複数の接触式3次元計測装置3、9の各々により各接触式3次元計測装置3、9に対して設定または定義される各3次元座標系で計測し、上記各接触式3次元計測装置3、9に対して設定または定義される各3次元座標系の相対的な位置および姿勢を相対位置・姿勢測定装置43により測定し、計測制御装置21により上記各3次元座標系で計測された3次元の被対象物上の異なる領域の計測値を、上記測定された各3次元座標系の相対的な位置および姿勢に基づいて同一3次元座標系に変換して3次元の被対象物上の異なる領域に対して同一3次元座標系で計測することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
3次元の被対象物に対して複数の接触式3次元計測装置を用いて同一3次元座標系で計測することを特徴とする接触式3次元計測方法。
引用特許：
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