特許

J-GLOBAL ID：200903037920501733

建具枠の設計方法

発明者： 高橋 省司 ,  新 秀隆 ,  菅間 信太郎 ,  合林 勝則 ,  木村 義智
出願人/特許権者： YKK AP株式会社
代理人 (1件)： 木下 實三 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-068538
公開番号（公開出願番号）：特開2003-269042
出願日： 2000年01月27日
公開日（公表日）： 2003年09月25日
要約：

【要約】【課題】 建具枠の製造コストを低減でき、かつ組立時などの施工作業性を向上できる建具枠の設計方法を提供すること。【解決手段】 種類の異なる各建具枠において、躯体取付片11D,111Dの室外側に形成されたビスホール41の形成位置を上枠11,111同士および下枠同士で同一にする。ビスホール41が上枠同士および下枠同士でそれぞれ同一位置に形成されているので、ビスホール41を形成する部分の金型を共通にでき、その分、製造設備費を低減できて建具枠の製造コストを低減できる。ビスホール41の形成位置が同一であれば、ビスのねじ込み位置も同一になって建具枠の組立施工時の作業性を向上できる。さらに、段窓時に前記ビスホール41を利用して固定される無目補強板を1種類にできてコストを低減できかつ施工作業性を向上できる。

請求項（抜粋）：

上枠、下枠および左右の縦枠を四周枠組みして形成された建具枠の設計方法であって、上枠および下枠における各躯体取付片の室外側に縦枠との接合用のビスホールを形成するとともに、前記上枠の高さ方向の枠基準位置である枠上面部から前記ビスホールの中心位置までの高さ寸法H1を、種類の異なる他の建具枠に対して、上枠同士で同一とし、前記上枠の見込み方向の枠基準位置である枠室外面部から前記ビスホールの中心位置までの見込み寸法L1を前記各上枠で同一とし、前記下枠の高さ方向の枠基準位置である下枠下端部から前記ビスホールの中心位置までの高さ寸法H2を、種類の異なる他の建具枠に対して、下枠同士で同一とし、下枠の見込み方向の枠基準位置である枠室外面部から前記ビスホールの中心位置までの見込み寸法L2を前記各下枠で同一とし、上枠および下枠にそれぞれ設定される前記各枠基準位置に対する前記ビスホールの形成位置を、種類の異なる各建具枠における上枠同士および下枠同士でそれぞれ同一とすることを特徴とする建具枠の設計方法。

IPC (2件)：

E06B 1/12 ,  E06B 1/56

FI (2件)：

E06B 1/12 Z ,  E06B 1/56 B

Fターム (5件)：

2E011KB03 ,  2E011KC01 ,  2E011KC03 ,  2E011KD14 ,  2E011KE01