特許

J-GLOBAL ID：200903037923485593

粒度分布測定システム用廃液処理装置

発明者： 松浦 弘明 ,  増田 吉通 ,  林 忠裕 ,  紅林 晋 ,  水野 英樹
出願人/特許権者： 日機装株式会社
代理人 (1件)： 円城寺 貞夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-047325
公開番号（公開出願番号）：特開2002-250687
出願日： 2001年02月22日
公開日（公表日）： 2002年09月06日
要約：

【要約】【課題】測定後の試料懸濁液をシステム内で自動的に処理して媒体液の再利用を可能とする粒度分布測定システム用廃液処理装置を提供する。【解決手段】試料粒子を媒体液中に懸濁させた試料懸濁液を測定対象として粒度分布測定装置によって試料粒子の粒度分布を測定する粒度分布測定システム用廃液処理装置であって、粒度分布測定装置から排出される測定後の試料懸濁液を貯留する廃液タンク41と、廃液タンク内の試料懸濁液の量の上限値および下限値を検出するレベルセンサ46と、廃液タンク内の試料懸濁液を送出するポンプ42と、ポンプによって送出された試料懸濁液から試料粒子を分離除去する濾過フィルタ43,44と、レベルセンサの出力により、廃液タンク内の試料懸濁液の量が上限値と下限値との間に維持されるようにポンプを駆動し、試料懸濁液から試料粒子を分離除去して処理済み媒体液とする制御部45とを有する。

請求項（抜粋）：

試料粒子を媒体液中に懸濁させた試料懸濁液を測定対象として粒度分布測定装置(2,6)によって試料粒子の粒度分布を測定する粒度分布測定システム用廃液処理装置であって、前記粒度分布測定装置(2,6)から排出される測定後の試料懸濁液を貯留する廃液タンク(41)と、前記廃液タンク(41)内の試料懸濁液の量の上限値および下限値を検出するレベルセンサ(46)と、前記廃液タンク(41)内の試料懸濁液を送出するポンプ(42)と、前記ポンプ(42)によって送出された試料懸濁液から試料粒子を分離除去する濾過フィルタ(43,44)と、前記レベルセンサ(46)の出力により、前記廃液タンク(41)内の試料懸濁液の量が前記上限値と前記下限値との間に維持されるように前記ポンプ(42)を駆動し、試料懸濁液から試料粒子を分離除去して処理済み媒体液とする制御部(45)とを有する粒度分布測定システム用廃液処理装置。