特許
J-GLOBAL ID：200903037978189900
応力測定方法及び応力解析プログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
服部 毅巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-067236
公開番号（公開出願番号）：特開2006-250688
出願日： 2005年03月10日
公開日（公表日）： 2006年09月21日
要約：
【課題】 材料の配向性や弾性異方性がある場合においても、測定に用いるX線の波長と回折面を限定することなく、応力を精度良く導き出すことができるようにする。【解決手段】 本発明の応力測定方法によれば、予め試料について異なる方向のひずみを算出しておき、応力とひずみとの関係式から応力を算出する(ステップS1〜S5)。このため、試料の配向性や弾性異方性の有無に拘わらず応力を求めることができる。特に、測定すべき応力成分の数よりも多い異なる方向のひずみを含んで算出して連立させ、さらに重回帰分析を用いて誤差の小さい応力の最適値を算出するため(ステップS4〜S6)、その測定精度を向上させることができる。【選択図】 図16
請求項（抜粋）：
測定対象となる試料の内部応力を測定するための応力測定方法において、
前記試料の配向に基づいて測定対象となる回折面を設定し、前記回折面に所定の入射角で電磁波又は粒子線を照射してその回折角を検出することにより、測定すべき応力成分の数よりも多い異なる方向のひずみを含んで算出するひずみ算出工程と、
前記ひずみ算出工程にて算出した数だけ応力とひずみとの関係式を連立し、前記応力の最適値を重回帰分析を用いて算出する応力算出工程と、
を備えたことを特徴とする応力測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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