特許
J-GLOBAL ID：200903037982368983
知識作成装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松井 伸一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-135527
公開番号（公開出願番号）：特開2008-292189
出願日： 2007年05月22日
公開日（公表日）： 2008年12月04日
要約：
【課題】 検査を行なうのに有効な特性指標を簡単に見つけるとともに、検査時に算出したその特性指標についての特徴量値と比較するための閾値を容易に設定することがでる知識作成装置を提供すること【解決手段】 サンプルの波形データに対し、特徴量とパラメータの所定の組み合わせについて求めたそれぞれの特徴量値の集合であるプロファイルを記憶するプロファイル保存部11と、プロファイル保存部から読み出したプロファイルを、特徴量の軸とパラメータの軸からなる2軸の座標系で表示装置14に表示するプロファイル表示部13と、表示されたプロファイル中から選択された特徴量とパラメータの組み合わせで特定される特性指標についての特徴量値を特性指標値としてプロファイル保存部から抽出する特性指標値抽出部16と、抽出した特性指標値の分布状況をグラフ表示する特性指標値表示部18と、分布状況から閾値を設定する閾値操作部19と、を備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
検査対象から取得した波形データに対し、その波形データの特徴を表す特徴量を演算して得られた特徴量演算結果に基づいて良否判定を行なう検査装置に設定するための、その良否判定を行なう際に使用する知識を求める知識作成装置であって、
サンプルの波形データに対し、特徴量とパラメータの所定の組み合わせについて求めたそれぞれの特徴量値の集合であるプロファイルを記憶するプロファイル保存手段と、
そのプロファイル保存手段から読み出したプロファイルを、特徴量の軸とパラメータの軸からなる2軸の座標系で表示するプロファイル表示手段と、
その表示されたプロファイル中から選択された特徴量とパラメータの組み合わせで特定される特性指標についての特徴量値を前記プロファイル保存手段から抽出する抽出手段と、
その抽出手段で抽出した特徴量値の分布状況から閾値を設定する閾値設定手段と、
を備えたことを特徴とする知識作成装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M19/00 Z
, G01H17/00 A
2G024AD02
, 2G024AD22
, 2G024BA15
, 2G024BA27
, 2G024CA13
, 2G024FA06
, 2G064AA11
, 2G064CC29
, 2G064CC41
, 2G064CC51
, 2G064DD09
