特許
J-GLOBAL ID：200903038033816874
超音波による被検体の厚み測定方法およびその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-206012
公開番号（公開出願番号）：特開平5-001910
出願日： 1991年08月16日
公開日（公表日）： 1993年01月08日
要約：
【要約】【目的】本発明は短時間で被検体の厚みを高精度に測定することにある。【構成】超音波探触子4から超音波パルスを板2に送信し、この板2から反射される超音波パルスを再度超音波探触子4で受信し、この受信信号の周波数スペクトルを周波数解析器9により解析すると共に、ピーク周波数検出器10により周波数スペクトルのピーク周波数を検出し、このピーク周波数から板2の板厚を求めることを特徴としている。
請求項（抜粋）：
超音波を用いて被検体の厚みを測定する方法において、超音波探触子から超音波パルスを被検体に送信することにより、前記被検体から反射される超音波パルスを再度前記超音波探触子で受信し、この受信信号を周波数解析して前記被検体の厚みを求めることを特徴とする超音波による被検体の厚み測定方法。
引用特許：
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