特許
J-GLOBAL ID：200903038107509774
耐食コーティングの温度推測方法、金属元素含有量予測方法および金属元素含有量低下時期予測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
村瀬 一美
, 井口 恵一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-206196
公開番号（公開出願番号）：特開2004-045342
出願日： 2002年07月15日
公開日（公表日）： 2004年02月12日
要約：
【課題】耐食コーティングの金属元素含有量および金属元素含有量低下時期を予測する。耐食コーティングの表面温度を実測せずに把握する。【解決手段】基材表面に施工された金属元素の拡散処理を施した耐食コーティングの表面からこの耐食コーティングと基材との界面までの拡散層厚さを実機の複数部位を分析して求め、この界面拡散層厚さと耐食コーティング中の金属元素含有量との相関を求め、この相関に基づき金属元素含有量を予測する。また、この相関を利用して、耐食コーティングの金属元素含有量が基材の金属元素含有量と同等まで低下する時期を予測する。また、加熱試験を行って界面拡散層の成長挙動を把握し、この拡散層厚さと温度との相関を求めて使用時温度を推測する。【選択図】 図10
請求項（抜粋）：
基材表面に施工された金属元素の拡散処理を施した高温部品用耐食コーティングの使用時における温度推測方法において、実機相当の組成を有するコーティング試験片の加熱試験を行うことによって前記耐食コーティングと前記基材との界面の拡散層の成長挙動を把握し、この拡散層の厚さと温度との相関を求めた後、実機で使用された耐食コーティングの界面拡散層厚さを計測し、この計測値と前記相関を基に前記耐食コーティングの使用時温度を推測することを特徴とする耐食コーティングの温度推測方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (18件)：
2G001BA05
, 2G001CA01
, 2G001GA01
, 2G001KA01
, 2G001KA11
, 2G001LA02
, 2G001NA06
, 2G001NA17
, 2G001RA08
, 2G050AA01
, 2G050AA04
, 2G050BA10
, 2G050CA02
, 2G050DA02
, 2G050EA01
, 2G050EB07
, 2G050EB10
, 2G050EC05
