特許
J-GLOBAL ID:200903038109749225

穀粒品質評価装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 船越 猛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-110781
公開番号(公開出願番号):特開2002-310919
出願日: 2001年04月10日
公開日(公表日): 2002年10月23日
要約:
【要約】【課題】 機械化して穀粒品質を自動的に評価する。【解決手段】 穀粒の表裏面の撮像手段で撮像した穀粒外観の撮像画像を記録手段で記録する。解析手段は、記録手段から記録画像を得て、その1粒毎の穀粒画像を複数象限に分割し、個々の象限毎に解析し、その解析結果を各象限に依存し、マハラノビス解析によって演算処理し、表裏の論理和の評価結果を得て、評価結果に従い、その穀粒に品質表示を付すか若しくはその穀粒を予め定められた区分に区分けする。撮像手段の撮像が表裏の内少なくとも1方向からの透過光画像を含むときは、解析手段の処理は、穀粒長尺方向の中央部に制限し、かつ亀裂検知のみを行なう。
請求項(抜粋):
穀粒の品質をその外観に基づき自動的に評価する装置において、穀粒外観を撮像する撮像手段と、前記撮像手段による撮像画像を記録する記録手段と、前記記録手段からの記録画像を解析し、当該穀粒に対して品質表示をし、若しくは当該穀粒を予め定められた区分に区分けし、評価する解析手段とからなり、前記解析手段は、1粒毎の穀粒画像を複数象限に分割し、個々の象限毎に解析し、前記個々の象限での解析結果を演算処理して評価結果を出すことを特徴とする穀粒品質評価装置。
IPC (3件):
G01N 21/85 ,  G01B 11/24 ,  G06T 1/00 280
FI (3件):
G01N 21/85 A ,  G06T 1/00 280 ,  G01B 11/24 K
Fターム (40件):
2F065AA52 ,  2F065AA58 ,  2F065AA60 ,  2F065AA61 ,  2F065BB05 ,  2F065BB23 ,  2F065CC00 ,  2F065DD00 ,  2F065FF04 ,  2F065FF27 ,  2F065FF41 ,  2F065FF46 ,  2F065MM07 ,  2F065PP02 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ43 ,  2G051AA04 ,  2G051AB02 ,  2G051CA07 ,  2G051CB01 ,  2G051CB02 ,  2G051EA17 ,  2G051EC01 ,  2G051EC02 ,  2G051EC04 ,  2G051EC10 ,  5B057AA15 ,  5B057BA02 ,  5B057BA19 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC04 ,  5B057DC09 ,  5B057DC19 ,  5B057DC25

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