特許

J-GLOBAL ID：200903038126714109

散乱光検出器

発明者： 伊串 達夫
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-096063
公開番号（公開出願番号）：特開平9-257684
出願日： 1996年03月26日
公開日（公表日）： 1997年10月03日
要約：

【要約】【課題】 より広い範囲で粒度分布の測定が可能な散乱光検出器を提供する。【解決手段】 集光した透過光11を軸心位置で検出するための受光素子21と、その受光素子21の周囲に同一円上に配置される三個以上の同一円弧状をなす軸心調整用の受光素子32,32a,32bと、少なくとも前記軸心調整用の受光素子32,32a,32bの一つを含む受光素子列とを同一平面上に配置した素子基板41が、光源光2の光軸方向(Z方向)と、その光軸方向と直交するX方向およびY方向に移動可能に構成されている。

請求項（抜粋）：

光源光を試料に照射させ、その散乱光を、同心円上に配置した複数の円弧状の受光素子よりなる受光素子列で検出する散乱光検出器において、集光した透過光を軸心位置で検出するための受光素子と、その受光素子の周囲に同一円上に配置される三個以上の同一円弧状をなす軸心調整用の受光素子と、少なくとも前記軸心調整用の受光素子の一つを含む前記受光素子列とを同一平面上に配置した素子基板が、前記光源光の光軸方向(Z方向)に移動可能に構成されていることを特徴とする散乱光検出器。

IPC (3件)：

G01N 15/02 ,  G01J 1/02 ,  G01N 21/47

FI (3件)：

G01N 15/02 A ,  G01J 1/02 Q ,  G01N 21/47 Z