特許
J-GLOBAL ID：200903038139145022
インバ-タにおけるスイッチング素子または/およびスイッチング素子駆動部の破損チェック方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
斎藤 春弥 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-358581
公開番号（公開出願番号）：特開平6-205588
出願日： 1992年12月28日
公開日（公表日）： 1994年07月22日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 インバ-タの制御装置の構成を複雑にせずに短時間でチェックが実行でき,作業員に技術的知識を必要としないインバ-タにおけるスイッチング素子または/およびスイッチング素子駆動部の破損チェック方法を提供する。【構成】 コンデンサ2に電荷を蓄電した状態において,直流電圧供給回路の電磁接触器9aを開放して各スイッチング素子3a1〜3a6を順次短時間駆動し,インバ-タ回路の流通電流値またはコンデンサ2の両端電圧値変化によってスイッチング素子3a1〜3a6が短絡状態であると判定するようにした。
請求項（抜粋）：
直流電源回路を電磁接触器を介して濾波用コンデンサを並列に接続したスイッチング素子によって構成したインバ-タ回路に接続し,インバ-タ制御装置によって前記スイッチング素子を駆動するようにしたインバ-タにおいて,上記コンデンサに電荷を蓄電した状態において,上記電磁接触器を開放して上記スイッチング素子を順次短時間駆動し,当該インバ-タに設けたインバ-タ回路の流通電流値またはコンデンサ両端電圧値を検出する手段によって検出した計測電流値または電圧値が急変した場合は当該スイッチング素子に直列に接続されるスイッチング素子が短絡状態であり,該電流値または電圧値が徐々に変化した場合は該スイッチング素子と負荷装置を経由して接続されるスイッチング素子が短絡状態であると判定するようにしたことを特徴とするインバ-タにおけるスイッチング素子の破損チェック方法。
IPC (4件)：
H02M 7/48
, H02M 1/00
, H02M 7/5387
, H02P 7/63 302
