特許

J-GLOBAL ID：200903038150103579

画像処理装置、放射線画像処理システム及び画像処理方法

発明者： 漆家 裕之
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-115735
公開番号（公開出願番号）：特開2002-312775
出願日： 2001年04月13日
公開日（公表日）： 2002年10月25日
要約：

【要約】【課題】 画像のヒストグラムをクラス分離する最適な閾値の画素値を高速に求めることを課題とする。【解決手段】 本発明の画像処理装置は、画素値レベルを縮小しない画像のヒストグラム及び画素値レベルを縮小した画像のヒストグラムを作成するヒストグラム作成手段と、画素値レベルを縮小した画像のヒストグラムを用いてクラス分離度が最大となる第1の閾値の画素値を決定する第1の閾値決定手段と、画素値レベルを縮小しない画像のヒストグラムを用いて第1の閾値に対応する閾値を含む所定の範囲でクラス分離度が最大となる第2の閾値の画素値を決定する第2の閾値決定手段とを具備する。

請求項（抜粋）：

画素値レベルを縮小しない画像のヒストグラム及び画素値レベルを縮小した画像のヒストグラムを作成するヒストグラム作成手段と、前記画素値レベルを縮小した画像のヒストグラムを用いてクラス分離度が最大となる第1の閾値の画素値を決定する第1の閾値決定手段と、前記画素値レベルを縮小しない画像のヒストグラムを用いて前記第1の閾値に対応する閾値を含む所定の範囲でクラス分離度が最大となる第2の閾値の画素値を決定する第2の閾値決定手段とを具備する画像処理装置。

IPC (6件)：

G06T 1/00 460 ,  A61B 6/00 ,  G06T 5/00 200 ,  H04N 1/40 ,  H04N 5/325 ,  H04N 7/18

FI (7件)：

G06T 1/00 460 L ,  G06T 5/00 200 ,  H04N 7/18 K ,  H04N 7/18 L ,  A61B 6/00 350 A ,  A61B 6/00 350 M ,  H04N 1/40 F

Fターム (36件)：

4C093AA26 ,  4C093CA29 ,  4C093EE01 ,  4C093EE09 ,  4C093FD01 ,  4C093FD03 ,  4C093FD09 ,  4C093FF08 ,  4C093FH06 ,  4C093FH07 ,  5B047AA17 ,  5B047AB02 ,  5B047DB01 ,  5B047DC04 ,  5B057AA08 ,  5B057BA03 ,  5B057CA08 ,  5B057CB06 ,  5B057CH08 ,  5B057DA17 ,  5B057DB09 ,  5B057DC23 ,  5C054AA01 ,  5C054CA02 ,  5C054EA01 ,  5C054EA05 ,  5C054FC00 ,  5C054FC16 ,  5C054HA00 ,  5C077LL19 ,  5C077MP01 ,  5C077PP27 ,  5C077PQ08 ,  5C077PQ19 ,  5C077RR16 ,  5C077TT09