特許
J-GLOBAL ID：200903038232509743
光学検出装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-272198
公開番号（公開出願番号）：特開平8-136469
出願日： 1994年11月07日
公開日（公表日）： 1996年05月31日
要約：
【要約】【目的】 光量の不均一性を抑えて寿命の長くして光学的に異常検出することができる光学検出装置の提供を目的とする。【構成】 磁気テープ3に対して均一な輝度で発光する単一のLED10と、LED10からの光束を直線状の照射面を持つ光束にして磁気テープでの集光面における形状を長方形にして集光する集光光学系OCと、磁気テープ3からの光を受光するCCDラインセンサ1aとを有している。
請求項（抜粋）：
光源から出射光を被検査対象に照射し、この被検査対象からの光を受光する光学検出装置において、上記被検査対象に対して均一な輝度で発光する単一の光源と、該光源からの光束を直線状の照射面を持つ光束にして上記被検査対象での集光面における形状を長方形にして集光する光学集光手段と、上記被検査対象からの光を受光する受光手段とを有することを特徴とする光学検出装置。
IPC (2件)：
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