特許
J-GLOBAL ID:200903038251606008

テストエレメント分析システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 朝日奈 宗太 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-193264
公開番号(公開出願番号):特開2002-048786
出願日: 2001年06月26日
公開日(公表日): 2002年02月15日
要約:
【要約】【課題】 温度補正機能を改善することによって、測定がより正確な分析システムを提供する。【解決手段】 分析を行なうために、被分析サンプル8に接触するテストエレメント3、テストエレメント3を測定位置に固定するテストエレメント支持部5を備えた評価装置2および測定・評価電子装置15からなる。測定・評価電子装置15は、分析値を求める際に、測定領域から離れた場所に設けられた温度センサによって行なわれる温度測定に基づいて、測定時の測定領域7の温度を考慮するための温度補正装置18を有する。温度補正装置18は、測定時まで電力を消費せず、測定時以前の温度履歴を電流を流さずに探知するための温度履歴生成装置20を有する。
請求項(抜粋):
サンプル、とくにヒトまたは動物の体液を分析的に検査するための分析システムであって、分析を行なうために被分析サンプルに接触し、その後、測定領域において分析に特徴的で測定可能な変化が起こるテストエレメント、およびテストエレメントを測定位置に固定するテストエレメント支持部ならびに特性の変化を測定し、測定結果に基づいて分析値を求めるための測定・評価電子装置を備えた評価装置からなり、前記測定・評価電子装置が、測定領域から離れた場所に設けられた温度センサによって行なわれる温度測定に基づいて、分析値の決定に際し、測定時の測定領域の温度を考慮するための温度補正ユニットを有する分析装置であって、前記温度補正ユニットが、測定時以前の温度履歴を電流を流さずに探知し、測定時まで電力を消費しない温度履歴生成装置を有することを特徴とする分析システム。
Fターム (9件):
2G045AA13 ,  2G045AA16 ,  2G045BB50 ,  2G045CA25 ,  2G045CB03 ,  2G045FB16 ,  2G045HA09 ,  2G045JA02 ,  2G045JA07

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