特許

J-GLOBAL ID：200903038261670332

電球用のガスの純度及び/又は圧力の測定方法及び装置

発明者： アイゼマン、ハンス ,  トウエステン、カーレン
出願人/特許権者： パテント-トロイハント-ゲゼルシヤフト フユア エレクトリツシエ グリユーランペン ミツト ベシユレンクテル ハフツング
代理人 (1件)： 富村 潔
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-524578
公開番号（公開出願番号）：特表平10-513566
出願日： 1996年02月14日
公開日（公表日）： 1998年12月22日
要約：

【要約】本発明による方法によれば、圧力に依存しない(不純物の検出)もしくは圧力に依存する(ガス圧の測定)少なくとも1つのスペクトル線の強度が選択的に測定される。この間接検出は波長が不純物の励起エネルギーより高い励起エネルギーに相当するスペクトル線の強度を使用する。このスペクトル線の強度は不純物に対する尺度になる。又は、それぞれの不純吻の少なくとも1つのスペクトル線の強度が直接測定される。同相擾乱を除去するために、2つのスペクトル線が測定され、その測定値から比が形成される。アルゴン内の不純物の間接検出には特に波長λ1=772.4nm及びλ2=738.4nmを持つアルゴン線の強度比が適することが実証され、そしてアルゴン圧力の測定には波長λ1=763.5nm及びλ2=738.4nmを持つアルゴン線の強度比Vが適することが実証された。この測定方法は特に放電ランプの高速製造ライン内に組込むのに好適である。

請求項（抜粋）：

ガスもしくは混合ガスのガス成分及び場合によってはそれに含まれる不純物が電磁放射線を放出するためにガス放電によって励起され、不純物を検出するためにこの放射線のスペクトル成分の強度が測定される電球又は放射器用のガス、特に希ガス又は混合ガス内の不純物の検出方法において、スペクトル成分として重要な範囲では殆ど圧力に依存しない強度を持つ少なくとも1つのスペクトル線が的確に選択されることを特徴とする電球又は放射器用のガス又は混合ガス内の不純物の検出方法。

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開2050-193056
  
• 特開2050-198047
  
• 特開2045-013664
  
• 特開2044-167236