特許
J-GLOBAL ID：200903038286221125
欠陥診断方法とその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田渕 経雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-132314
公開番号（公開出願番号）：特開2000-146919
出願日： 1999年05月13日
公開日（公表日）： 2000年05月26日
要約：
【要約】【課題】 非磁性材料または磁性材料または加工により磁性を帯びる材料からなる導電性ワークの欠陥を簡便、高精度に診断する方法とその装置を提供する。【解決手段】 非磁性材料または磁性材料または加工により磁性を帯びる材料からなる導電性ワーク20に通電して誘導磁場を発生させ、電流磁気電界効果または電磁誘導作用を利用して磁界を検出する磁気センサ(ホール効果素子)10をワーク20の表面に沿って非接触で移動させて磁束密度を検出し、磁束密度の乱れからワーク20の欠陥を検出する欠陥診断方法とその装置。
請求項（抜粋）：
導電性材料からなるワークに通電して誘導磁場を発生させる磁場発生工程と、前記ワークの表面に沿って電流磁気電界効果または電磁誘導作用を利用して磁界を検出する磁気センサを移動させワークの発生磁束密度を検出する検出工程と、前記検出した発生磁束密度の局部的な乱れから前記ワークの欠陥などを診断する判定工程と、からなるワークの欠陥診断方法。
Fターム (12件)：
2G053AA11
, 2G053AB11
, 2G053AB19
, 2G053AB21
, 2G053BA15
, 2G053BC14
, 2G053CA02
, 2G053CA05
, 2G053CA06
, 2G053CB29
, 2G053DB20
, 2G053DB23
