透過断層撮影-放出断層撮影複合装置のモジュール式検出装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山口巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-294891
公開番号（公開出願番号）：特開2006-113061
出願日： 2005年10月07日
公開日（公表日）： 2006年04月27日
要約：

【課題】透過断層撮影-放出断層撮影複合装置におけるモジュール式の改善された検出装置を提供する。【解決手段】検出器の内部において透過X線および放出γ線を測定するための透過断層撮影-放出断層撮影複合装置におけるモジュール式検出装置であって、吸収事象を検出するために放射方向に重ね合わされて配置された少なくとも3つの異なる厚みの吸収層(Ax)を有する検出装置において、少なくとも3つの全ての吸収層(Ax)が単一の材料からなり、各吸収層(Ax)は、検出される吸収事象の位置(x)、時間(t)およびエネルギー(E)の測定値を共通な評価ユニットに伝達することができる測定チップ(Cx)に接続され、この評価ユニットは、伝達された吸収事象の測定値からコンピュータ断層撮影(CT)信号、単光子放出断層撮影(SPECT)信号および陽電子放出断層撮影(PET)信号への分配を行なうことができ、吸収層は多数の検出要素に区分されている。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

検出器の内部において透過X線および放出γ線を測定するための透過断層撮影-放出断層撮影複合装置におけるモジュール式検出装置であって、吸収事象を検出するために放射方向に重ね合わされて配置された少なくとも3つの異なる厚みの吸収層(Ax)を有する検出装置において、少なくとも3つの全ての吸収層(Ax)が単一の材料からなり、各吸収層(Ax)は、検出された吸収事象の位置(x)、時間(t)およびエネルギー(E)の測定値を共通な評価ユニットに伝達することができる測定チップ(Cx)に接続され、この評価ユニットは、吸収事象の伝達された測定値からコンピュータ断層撮影(CT)信号、単光子放出断層撮影(SPECT)信号および陽電子放出断層撮影(PET)信号への分配を行なうことができ、吸収層は多数の検出要素に区分されていることを特徴とする透過断層撮影-放出断層撮影複合装置におけるモジュール式検出装置。

IPC (7件)：

G01T 1/161 , A61B 6/03 , G01T 1/24 , G01T 1/20 , H01L 31/09 , H01L 27/14 , H04N 5/32

FI (8件)：

G01T1/161 C , A61B6/03 320Z , A61B6/03 377 , G01T1/24 , G01T1/20 G , H01L31/00 A , H01L27/14 K , H04N5/32

Fターム (36件)：

2G088EE02 , 2G088FF02 , 2G088FF04 , 2G088FF07 , 2G088GG17 , 2G088GG19 , 2G088GG21 , 2G088JJ05 , 2G088JJ07 , 2G088JJ09 , 2G088KK29 , 2G088KK32 , 2G088KK33 , 2G088KK35 , 4C093CA37 , 4C093EB16 , 4C093EB20 , 4M118AB01 , 4M118BA07 , 4M118BA14 , 4M118CA15 , 4M118CA27 , 4M118CB05 , 4M118CB11 , 4M118FA06 , 4M118GA10 , 5C024AX11 , 5C024AX16 , 5C024GX07 , 5F088BB03 , 5F088BB07 , 5F088EA04 , 5F088EA08 , 5F088EA11 , 5F088EA20 , 5F088LA08

引用特許：

出願人引用 (1件)

米国特許第6448559号明細書

前のページに戻る