特許

J-GLOBAL ID：200903038382010585

画像照合方法および装置

発明者： 近藤 哲二郎
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 杉浦 正知
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-033174
公開番号（公開出願番号）：特開平7-222174
出願日： 1994年02月04日
公開日（公表日）： 1995年08月18日
要約：

【要約】【目的】 ブロックマッチング法により動きベクトルを検出する時に、演算量を低減することができ、また、位相ずれに起因する誤検出のおそれを防止することができ、さらに、検出精度を向上する。【構成】 (3×3)画素の基準ブロックの代表画素値xa が代表値抽出回路7aで抽出される。同じ大きさの検査ブロックの最大値,最小値がMAX2,MIN2検出回路8aで検出される。比較回路9aにおいて、代表画素値xa がMAX2およびMIN2の範囲内にあるかどうかが比較され、その比較結果に応じた評価値Δa が評価値計算回路10aで計算される。若し、xa がMAX2およびMIN2の間に含まれる時には、Δa が0とされる。これが順方向照合である。検査ブロックの代表画素値xb と基準ブロックのMAX1,MIN1とを使用して、逆方向照合の評価値Δb が同様に形成される。Δa とΔb とから形成された総合評価値に基づいて、動きベクトルが検出される。

請求項（抜粋）：

第1の画像データを複数の基準ブロックへ分割するステップと、第2の画像データを複数の検査ブロックへ分割するステップと、上記基準ブロックから第1の代表画素データを抽出するステップと、上記第1の代表画素データと対応する画素データを含む上記検査ブロックについて特徴量を示す第1の特徴量データを抽出するステップと、上記第1の代表画素データと上記第1の特徴量データとを比較することによって、上記基準ブロックを基準とした第1の評価値を生成するステップと、上記検査ブロックから第2の代表画素データを抽出するステップと、上記第2の代表画素データと対応する画素データを含む上記基準ブロックについて特徴量を示す第2の特徴量データを抽出するステップと、上記第2の代表画素データと上記第2の特徴量データとを比較することによって、上記検査ブロックを基準とした第2の評価値を生成するステップと、上記第1および第2の評価値から総合評価値を生成し、上記総合評価値に基づいて上記第1および第2の画像データの部分的照合を行うステップとからなる画像照合方法。

IPC (4件)：

H04N 7/32 ,  G06T 7/20 ,  H04N 7/18 ,  H04N 11/04

FI (2件)：

H04N 7/137 Z ,  G06F 15/70 410