特許

J-GLOBAL ID：200903038420775817

電子源および画像形成装置の検査方法及び検査装置及び記録媒体

発明者： 藤井 明 ,  竹上 毅
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 山下 穣平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-047167
公開番号（公開出願番号）：特開2000-251733
出願日： 1999年02月24日
公開日（公表日）： 2000年09月14日
要約：

【要約】【課題】 複数の電子放出素子を配置した電子源及び該電子源を用いた画像形成装置の検査工程において、検査時間を短縮し、製造コストを小さくする。【解決手段】 複数個の電子放出素子を用いた電子源を作成する各工程における、前記電子源の検査方法であって、a)当該検査が検査対象とする前記電子源において、当該検査以前になされた前検査の検査結果を1つ以上読み込む前検査結果読み込み手順;b)前記前検査結果読み込み手順により読み込んだ検査結果より、当該検査における検査箇所の優先順位を決定する優先順位決定手順;c)前記優先順位決定手順により決定した検査箇所の優先順位にしたがって当該検査を行う検査手順;を備えることを特徴とする電子源の検査方法。

請求項（抜粋）：

複数個の電子放出素子を用いた電子源を作成する各工程における電子源の検査方法であって、a)当該検査が検査対象とする前記電子源において、当該検査以前になされた前検査の検査結果を1つ以上読み込む前検査結果読み込み手順;b)前記前検査結果読み込み手順により読み込んだ検査結果より、当該検査における検査箇所の優先順位を決定する優先順位決定手順;c)前記優先順位決定手順により決定した検査箇所の優先順位にしたがって当該検査を行う検査手順;を備えることを特徴とする電子源の検査方法。

Fターム (2件)：

5C012AA05 ,  5C012BE03