特許

J-GLOBAL ID：200903038421912303

多芯光ファイバの異常一括検出方法およびその装置

発明者： 岩田 春樹 ,  頼成 洋
出願人/特許権者： 古河電気工業株式会社
代理人 (1件)： 五十嵐 清
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-094764
公開番号（公開出願番号）：特開平9-257638
出願日： 1996年03月25日
公開日（公表日）： 1997年10月03日
要約：

【要約】【課題】 多芯光ファイバの異常検出を効率的に行う。【解決手段】 複数の光ファイバ8a〜8hが並設されてなる光コネクタ1のうちの2本の被測定用の光ファイバ8a,8hの異常検出を行う際に、光源9および反射光測定部10を備えた反射測定器3と光コネクタ1との間に光分波器6を介設する。光分波器6は1つの入射端11と互いに長さの異なる2本の光通路5a,5bを設けて形成し、光源9から入射端11に入射する測定光を光通路5a,5bに分割してその長さの異なる分だけ光ファイバ8a,8hへの測定光入射タイミングをずらして入射させる。光ファイバ8a,8bを伝搬しながら反射する反射戻り光を光分波器6を介して反射光測定部10にタイミングをずらして入射させ、反射光測定部10で測定することにより、一括して光ファイバ8a,8hの異常検出を行う。

請求項（抜粋）：

複数の光ファイバが並設されてなる多芯光ファイバのうちの2本以上の被測定用の光ファイバにそれぞれ光源からの測定光を入射させ、該測定光がこれらの各被測定用光ファイバを伝搬しながら反射する反射戻り光を反射光測定装置にて一括して測定して各被測定用光ファイバの異常の有無を一括検出する多芯光ファイバの異常一括検出方法であって、1つの入射端を有し該入射端から入射する前記測定光を複数の光通路に分割し、かつ、各光通路の長さを互いに異なる長さにして各光通路の出射端から出射させる光分波器を前記光源と被測定用光ファイバとの間に介設し、前記光源からの測定光を前記光分波器に入射させて前記各光通路に分割し該各光通路の長さが異なる分だけ前記各被測定用光ファイバへの測定光の入射のタイミングをずらして各被測定用光ファイバに入射させることを特徴とする多芯光ファイバの異常一括検出方法。