特許

J-GLOBAL ID：200903038441674735

試料分析装置

発明者： 千代 知成
出願人/特許権者： 富士フイルム株式会社
代理人 (2件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-275530
公開番号（公開出願番号）：特開2007-082769
出願日： 2005年09月22日
公開日（公表日）： 2007年04月05日
要約：

【課題】 非接触計測における時間差が補正された高精度な試料分析装置を得る。 【解決手段】 MEMSミラー114により偏向された励起光は被計測部9を走査し、この走査に起因して被計測部9の複数の検出点から検出された散乱光と蛍光は、イメージファイバ130により伝送されて蛍光処理ユニット30に入射する。蛍光処理ユニット30からの信号が入力された制御・信号処理ユニット50では、この信号から散乱光および蛍光の時間プロファイルを作成する。この際、制御・信号処理ユニット50では、走査点および検出点に応じて、時間プロファイルの時間情報を補正し、補正された時間プロファイルに基づいて被計測部9内の特性を計算する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

光を偏向して試料を走査する走査手段を有し、前記走査による前記試料からの光を前記試料の複数の検出点から検出し、該光の光情報を取得する試料分析装置において、 前記走査の走査点および前記検出点に応じて、前記光情報の時間情報を補正する補正手段と、 前記補正された光情報に基づいて前記試料の特性を計算する計算手段と、を備えることを特徴とする試料分析装置。

IPC (4件)：

A61B 1/00 ,  G01N 21/64 ,  A61B 1/04 ,  A61B 10/00

FI (4件)：

A61B1/00 300D ,  G01N21/64 B ,  A61B1/04 372 ,  A61B10/00 E

Fターム (41件)：

2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043EA01 ,  2G043EA13 ,  2G043EA14 ,  2G043FA01 ,  2G043FA03 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA05 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA08 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2G043NA05 ,  2G043NA06 ,  4C061AA00 ,  4C061BB01 ,  4C061BB05 ,  4C061CC04 ,  4C061CC06 ,  4C061HH54 ,  4C061JJ17 ,  4C061LL02 ,  4C061LL08 ,  4C061NN01 ,  4C061PP13 ,  4C061QQ02 ,  4C061QQ04 ,  4C061QQ07 ,  4C061QQ09 ,  4C061RR02 ,  4C061RR03 ,  4C061RR26 ,  4C061TT20 ,  4C061VV04 ,  4C061WW17