特許

J-GLOBAL ID：200903038450181571

テスト項目設計支援システム

発明者： 高橋 徳子
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 松本 正夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-197373
公開番号（公開出願番号）：特開平8-044589
出願日： 1994年07月29日
公開日（公表日）： 1996年02月16日
要約：

【要約】【目的】 テスト項目作成者の誤解や読解漏れによる過ったテスト項目を作成する恐れのないテスト項目設計支援システムを提供することを目的とする。【構成】 機能仕様書を入力する仕様書入力部10、機能記述ルールを記憶する機能記述ルールファイル11、項目分析ルールを記憶する項目分析ルールファイル12、機能記述ルールにしたがって記述された機能を原因項目と結果項目に分類し項目分析ルールにしたがって各項目の間の関係を分析する項目分析部13、項目分析の結果から原因-結果グラフを自動生成する原因-結果グラフ作成部14、原因-結果グラフを表示するディスプレー装置15、原因-結果グラフから原因-結果テーブルを自動作成する原因-結果テーブル変換部16、変換された原因-結果テーブルを表示するディスプレ装置17、原因-結果テーブルからテスト項目を作成するテスト項目作成部18とを備える。

請求項（抜粋）：

入力したソフトウエアの機能仕様書を構成する文中から該ソフトウエアの機能を記述する機能記述文を抽出し、該機能記述文中の節または句から該機能の原因を示す原因項目と該機能の結果を示す結果項目とを検出し各項目どうしの関係を分析する項目分析手段と、前記分析結果にしたがって前記ソフトウエアのテスト項目を作成するテスト項目作成手段とを備えることを特徴とするテスト項目設計支援システム。

IPC (2件)：

G06F 11/28 340 ,  G06F 9/06 540

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平1-175925
  
• 特開平4-175925
  
• ソフトウェアデバッグ装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-091577   出願人：株式会社島津製作所