特許

J-GLOBAL ID：200903038457883890

pH測定電極

発明者： 加藤 明彦 ,  山里 昌春 ,  田口 富男 ,  勝部 昭明
出願人/特許権者： 東亜電波工業株式会社
代理人 (1件)： 倉橋 暎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-259673
公開番号（公開出願番号）：特開平8-101159
出願日： 1994年09月30日
公開日（公表日）： 1996年04月16日
要約：

【要約】【目的】 更に、小型で、製造が容易であり、作業性が良く、堅牢で、液体のみならず固体表面或いは内部をも測定することができ、しかも、耐薬品性に優れ、測定可能なpH範囲が広く、かつ長期間安定した測定が可能な、酸化イリジウムをpH感応膜とするpH測定電極を提供する。【構成】 pH測定電極1は、細長形状の絶縁性支持部材42と、この支持部材42の一端に取付けられたpH感応部2とを有し、pH感応部2は、実質的に端部平面部のみが外部に露出し、被測定物に接触するようにして絶縁性支持部材42の一端に取付けられる。pH感応部2は、一端28aが平面に形成された絶縁性セラミック製のロッド28を有し、このロッド28の表面は、少なくとも表面粗さがRmax 0.02、Ra 0.002となるように鏡面仕上げされ、イリジウムと酸素の組成比が1:2.5〜1:3.5とされる酸化イリジウム膜22と、この酸化イリジウム膜22が形成された端部平面と円周面の少なくとも一部とを覆って多孔質絶縁膜23とが成膜される。

請求項（抜粋）：

細長形状の絶縁性支持部材と、この支持部材の一端に取付けられたpH感応部とを有するpH測定電極であって、前記pH感応部は、少なくとも鏡面仕上げされた端面を有する絶縁性セラミックロッドと、少なくとも前記絶縁性セラミックロッドの前記鏡面仕上げされた端面と円周面の一部に形成された、イリジウムと酸素の組成比が1:2.5〜1:3.5とされる酸化イリジウム膜と、少なくとも前記酸化イリジウム膜が形成された前記端面を覆って形成された多孔質絶縁膜と、前記多孔質絶縁膜が被覆されていない酸化イリジウム膜に電気的に接触した導線手段とを有しており、そして前記pH感応部は、実質的に前記酸化イリジウム膜が形成された前記端面部のみが外部に露出し、前記多孔質絶縁膜を介して被測定物に接触するようにして前記絶縁性支持部材に取付けられていることを特徴とするpH測定電極。