特許

J-GLOBAL ID：200903038485050348

磁気記録媒体の表面粗さ測定方法

発明者： 阿部 直人
出願人/特許権者： 富士写真フイルム株式会社
代理人 (1件)： 磯野 道造
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-329149
公開番号（公開出願番号）：特開2003-130606
出願日： 2001年10月26日
公開日（公表日）： 2003年05月08日
要約：

【要約】【課題】 磁気記録媒体の記録面上の表面粗さを、実際の磁気記録媒体と磁気ヘッドとの接触時に磁気ヘッドが受けるのと同様な感度で測定することができる磁気記録媒体の表面粗さ測定方法を提供する。【解決手段】 磁気記録媒体の表面粗さは、磁気抵抗効果素子を用いた再生磁気ヘッドが磁気記録媒体を再生する際に、磁気記録媒体との摩擦熱によって発生するサーマルアスペリティ波形のピーク値のレベル(TAレベル)を検出し、TAレベルから、予め求めておいたTAレベルと磁気記録媒体上の突起の高さとの関係を利用して、突起の高さを算出する。このことにより、サーマルアスペリティ波形から磁気記録媒体上の突起の高さを容易に求めることができる。また、磁気記録媒体上の突起の高さを、実際の磁気記録媒体と磁気ヘッドとの接触時に磁気ヘッドが受けるのと同様な感度で測定することができる。

請求項（抜粋）：

磁気抵抗効果素子を用いた再生磁気ヘッドが磁気記録媒体を再生する際に、前記磁気記録媒体との摩擦熱によって発生するサーマルアスペリティ波形のピーク値のレベルを検出し、前記サーマルアスペリティ波形のピーク値のレベルから、予め求めておいた前記ピーク値のレベルと前記磁気記録媒体上に存在する突起の高さとの関係を利用して、前記突起の高さを算出することを特徴とする磁気記録媒体の表面粗さ測定方法。

IPC (4件)：

G01B 7/34 102 ,  G01N 13/10 ,  G01N 13/16 ,  G11B 5/84

FI (4件)：

G01B 7/34 102 Z ,  G01N 13/10 H ,  G01N 13/16 B ,  G11B 5/84 C

Fターム (14件)：

2F063AA14 ,  2F063AA43 ,  2F063BA30 ,  2F063BB03 ,  2F063BC09 ,  2F063BD05 ,  2F063BD11 ,  2F063BD15 ,  2F063DA02 ,  2F063DB04 ,  2F063DC08 ,  2F063FA00 ,  2F063GA52 ,  5D112JJ03