特許

J-GLOBAL ID：200903038492598618

不良率推定方法、不良率推定システムおよび記録媒体

発明者： 鈴木 辰哉 ,  大橋 敏郎 ,  宮川 正威 ,  浅野 匡昭 ,  久保田 ▲たかし▼
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-075282
公開番号（公開出願番号）：特開平10-334151
出願日： 1998年03月24日
公開日（公表日）： 1998年12月18日
要約：

【要約】【課題】設計段階等の製造前の段階で製品の持つ組立不良率係数を摘出する方法及びそのシステムを提供する。【解決手段】組立作業の不良の起きやすさに影響の大きい、組立動作、組立対象部品の性質条件と組立職場の条件を入力データとする組立不良率推定プログラムにより精度の高い組立不良率推定値を算出することを特徴とする不良率推定方法及びシステムである。

請求項（抜粋）：

製品の組付動作を分類した標準組付動作別の不良率係数と、該製品を構成する組付部品の性質別の第一の補正係数と、該製品を構成する被組付部の性質別の第二の補正係数とを記憶しておき、評価対象の有する組付部品の性質を表す第一の情報と、該評価対象の有する被組付部品の性質を表す第二の情報と、該組付部品を該被組付部品に組み付ける場合の標準組付動作を表す第三の情報とを少なくとも入力するステップと、該入力された第一、第二の情報を用いて該当する第一、第二の補正係数を抽出するステップと、該入力された第三の情報を用いて該当する不良率係数を抽出するステップと、該抽出された不良率係数を該抽出された第一、第二の補正係数を用いて補正することで該評価対象の組付不良率を算出するステップとを有することを特徴とする不良率推定方法。

IPC (3件)：

G06F 17/60 ,  B23P 21/00 307 ,  G06F 17/50

FI (4件)：

G06F 15/21 R ,  B23P 21/00 307 Z ,  G06F 15/60 608 A ,  G06F 15/60 612 Z

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 製造性自動評価方法およびシステム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-081886   出願人：株式会社日立製作所