特許

J-GLOBAL ID：200903038511492079

散乱媒質中における吸光物質の濃度測定方法

発明者： 片山 薫 ,  田村 守 ,  西村 吾朗
出願人/特許権者： 麒麟麦酒株式会社
代理人 (1件)： 皿田 秀夫 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-203899
公開番号（公開出願番号）：特開平9-033433
出願日： 1995年07月18日
公開日（公表日）： 1997年02月07日
要約：

【要約】【目的】 安価でかつ取扱いが簡単である連続発振レーザを用いて、安価かつ簡易に散乱媒質中における吸光物質の濃度を測定する方法を提供する。【構成】 吸光物質を含まない散乱媒質、および吸光物質を含む散乱媒質をそれぞれ準備し、吸光物質を含まない散乱媒質に、波長λの連続発振のレーザ光を照射し、吸光物質を含まない散乱媒質からの電場の自己相関関数を測定し、吸光物質を含む散乱媒質に、波長λの連続発振のレーザ光を照射し、吸光物質を含む散乱媒質からの電場の自己相関関数を測定し、これらの2つの自己相関関数を用いて、両者のタイムシフト量α(=τ0 l*μa /2)を求め、このタイムシフト量、ならびに波長λにおける散乱媒質の物性値である特性相関時間τ0 および輸送平均自由距離l* を用いて、吸光係数μa を求めることにより吸光物質の濃度を測定する散乱媒質中における吸光物質の濃度測定方法。

請求項（抜粋）：

吸光物質を含まない散乱媒質、および吸光物質を含む散乱媒質をそれぞれ準備し、吸光物質を含まない散乱媒質に、波長λの連続発振のレーザ光を照射し、吸光物質を含まない散乱媒質からの電場の自己相関関数を測定し、吸光物質を含む散乱媒質に、波長λの連続発振のレーザ光を照射し、吸光物質を含む散乱媒質からの電場の自己相関関数を測定し、これらの2つの自己相関関数を用いて、両者のタイムシフト量α(=τ0 l*μa /2)を求め、このタイムシフト量、ならびに波長λにおける散乱媒質の物性値である特性相関時間τ0 および輸送平均自由距離l* を用いて、吸光係数μa を求めることにより吸光物質の濃度を測定する散乱媒質中における吸光物質の濃度測定方法。

IPC (2件)：

G01N 21/49 ,  A61B 5/14 310

FI (2件)：

G01N 21/49 Z ,  A61B 5/14 310