特許
J-GLOBAL ID：200903038566949400
D/AコンバータおよびD/Aコンバータの試験方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
深見 久郎 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-190484
公開番号（公開出願番号）：特開平7-046129
出願日： 1993年07月30日
公開日（公表日）： 1995年02月14日
要約：
【要約】【目的】 D/Aコンバータの内部回路試験や評価を行なうのに際し、高分解能を持つ測定器を不要としかつコストを低減化する。【構成】 この発明に係るD/Aコンバータ1は、複数のアナログ信号源2のうち、重みが同一であるアナログ信号源を個々に動作させる回路4を付加し、D/Aコンバータ1の内部回路試験時と通常動作時の各々の場合により内部回路を切換えるためのセレクタ5を付加した構成となっている。重みが同一であるアナログ信号源2を個々に動作させる機能とD/Aコンバータ1の内部回路試験時と通常動作時の各々の場合により内部回路を切換える機能とにより、D/Aコンバータの内部回路試験時に、通常動作時では個々に動作しないアナログ信号源を個々に動作させる。
請求項（抜粋）：
各々が、同じ重みにされたアナログ信号を発生する複数のアナログ信号源、ディジタル入力信号をデコーダして前記複数のアナログ信号源のうちのディジタル値に対応する複数のアナログ信号源を活性化するための第1の信号を発生する第1の信号発生手段、前記複数のアナログ信号源を個々に活性化するための第2の信号を発生する第2の信号発生手段、および前記第1および第2の信号発生手段に接続され、通常動作時に前記第1の信号発生手段の出力を選択し、D/Aコンバータの内部回路試験時に前記第2の信号発生手段の出力を選択し、選択した第1または第2の信号発生手段の出力を前記複数のアナログ信号源に与える選択手段を含むD/Aコンバータ。
IPC (2件)：
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