特許
J-GLOBAL ID:200903038597171008

プリント回路基板検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 三好 秀和 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-053354
公開番号(公開出願番号):特開平6-300702
出願日: 1991年02月25日
公開日(公表日): 1994年10月28日
要約:
【要約】【目的】 プリント回路基板検査装置のための改良された照明システムを提供することである。【構成】 プリント回路基板検査装置の1組のカメラと共働して使用するための、本質的に半球状をした支持部材の内部に,選択的に制御可能な複数の発光素子を配置した。
請求項(抜粋):
リードまたはピンを持つ回路要素が半田づけにより取り付けられたプリント回路基板の基板および回路要素を検査するための装置であって、前記プリント回路基板および前記回路要素を照明するための手段と、前記プリント回路基板および前記回路要素から反射される光を受光し、前記カメラ手段により受光した反射光の強弱に応じて変化する電気信号を発生するためのカメラ手段とを含み、前記照明手段が、ほぼ半球状に配列された選択的に制御可能な発光素子を含むプリント回路基板検査装置。
IPC (3件):
G01N 21/88 ,  G01B 11/24 ,  H05K 13/08
引用特許:
審査官引用 (5件)
  • 特開昭61-293657
  • 特開昭61-041906
  • 特開平2-049500
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