特許
J-GLOBAL ID：200903038612204651
実装基板生産システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-260449
公開番号（公開出願番号）：特開平6-112295
出願日： 1992年09月30日
公開日（公表日）： 1994年04月22日
要約：
【要約】【目的】不良発生原因を事前に解消して良品を無駄なく生産するとともに製品品質の堅固な信頼性を得る。【構成】各不良監視項目における不良判定基準には達しない警告基準との比較結果に基づいて各設備条件および各設備を通過した基板の品質を各分析部22,24,26で各工程の集計分析および時系列分析し、これら分析結果に基づいてその検査工程の設備に動作制御指示を出力するとともに、相関分析部27を介して半田印刷機4、装着機7およびリフロー炉10のうち、監視項目の要因に関連する工程の設備に動作制御指示を出力して動作状態を動的に変えるので、各監視項目の検査値が不良判定基準に達するまでに各工程の異常が事前に発見されて、各工程に対して事前に的確な対策指示が可能となり、これにより不良発生が未然に食い止められる。
請求項（抜粋）：
基板のランド上に半田を印刷する印刷手段と、前記印刷された半田の所定位置に部品を装着する部品装着手段と、前記部品が装着された基板のランドと前記部品の端子を半田接合する半田付手段とを有する実装基板生産システムであって、前記印刷手段、部品装着手段および半田付手段のうち少なくとも何れかに対する設備および基板の所定監視項目を検出する監視項目検出手段と、前記監視項目検出手段の検出結果により予め設定された前記監視項目に対する、不良判定基準には達しない警告基準との比較結果に基づいて前記設備の条件および基板の品質を分析する制御手段と、前記制御手段の分析結果をモニタ出力するモニタ手段とを備えた実装基板生産システム。
IPC (3件)：
H01L 21/66
, G06F 15/62 405
, H05K 3/34
