特許

J-GLOBAL ID：200903038657989447

劣化診断回路及び半導体集積回路

発明者： 西川 浩行 ,  中谷 博司 ,  澤田 彰 ,  竹根 浩一 ,  川村 敏和 ,  鮫田 芳富 ,  岡部 基彦
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (7件)： 三好 秀和 ,  岩▲崎▼ 幸邦 ,  川又 澄雄 ,  中村 友之 ,  伊藤 正和 ,  高橋 俊一 ,  高松 俊雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-329699
公開番号（公開出願番号）：特開2008-147245
出願日： 2006年12月06日
公開日（公表日）： 2008年06月26日
要約：

【課題】単純な回路で構成される劣化診断回路及びIPコア化された劣化診断回路が組み込まれた半導体集積回路を提供する。【解決手段】半導体集積回路10a内に設けられた実回路12の経年劣化による故障時期を予測する劣化診断回路13aであって、一定の周波数でパルス信号を出力する信号発生回路14と、実回路12と同時期に設けられ、信号発生回路14により出力されたパルス信号を通過させて出力する劣化診断対象回路16aと、信号発生回路14により出力されたパルス信号の立ち上がりから所定時間だけ遅れて立ち上がりかつ信号発生回路14により出力されたパルス信号と同じ周波数を有するクロック信号を生成するとともに、劣化診断対象回路16により出力されたパルス信号のタイミングとクロック信号のタイミングとを比較して劣化診断対象回路16aの劣化が発生したか否かを判定し、判定結果を実回路と外部との少なくとも一方に出力する劣化判定回路18とを備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

半導体集積回路内に設けられた実回路の経年劣化による故障時期を予測する劣化診断回路であって、 一定の周波数でパルス信号を出力する信号発生回路と、 前記実回路と同時期に設けられ、前記信号発生回路により出力されたパルス信号を通過させて出力する劣化診断対象回路と、 前記信号発生回路により出力されたパルス信号の立ち上がりから所定時間だけ遅れて立ち上がりかつ前記信号発生回路により出力されたパルス信号と同じ周波数を有するクロック信号を生成するとともに、前記劣化診断対象回路により出力されたパルス信号のタイミングと前記クロック信号のタイミングとを比較して前記劣化診断対象回路の劣化が発生したか否かを判定し、判定結果を前記実回路と外部との少なくとも一方に出力する判定回路と、 を備えることを特徴とする劣化診断回路。

IPC (3件)：

H01L 21/822 ,  H01L 27/04 ,  G01R 31/28

FI (2件)：

H01L27/04 T ,  G01R31/28 V

Fターム (18件)：

2G132AA00 ,  2G132AB04 ,  2G132AB20 ,  2G132AG01 ,  2G132AG08 ,  2G132AK07 ,  2G132AK09 ,  2G132AL09 ,  2G132AL11 ,  5F038CD09 ,  5F038CD11 ,  5F038CD12 ,  5F038CD18 ,  5F038DT06 ,  5F038DT08 ,  5F038DT12 ,  5F038DT19 ,  5F038EZ20

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 半導体装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-140575   出願人：松下電器産業株式会社
• 半導体装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-276542   出願人：株式会社日立製作所