特許

J-GLOBAL ID：200903038660656335

光学検出方法および表示装置

発明者： 源間 信弘 ,  市村 厚一 ,  山本 和重
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-237472
公開番号（公開出願番号）：特開平9-079981
出願日： 1995年09月14日
公開日（公表日）： 1997年03月28日
要約：

【要約】【課題】従来よりも汎用性の高い原子・分子レベルの光学検出方法を提供すること。【解決手段】3準位以上を有する不純物を含む試料に、所定条件を満足する周波数ωp ,ωc の二本のレーザー光を照射してその吸収を検出する。このような検出を複数の(ωc ,ωc )組について行なう。その結果をωp -ωc 平面上に表示する。

請求項（抜粋）：

固体中に含まれる、3準位以上のエネルギー準位からなるエネルギー準位構造を有する物理構造を、前記固体に第1、第2のコヒーレント光を照射して光学的に検出する光学検出方法であって、前記固体中に含まれる前記物理構造の個数をN、i番目の物理構造の所定の三つの準位を第1、第2、第3の準位とし、第1の準位のエネルギーをε<SB>i1</SB>、第2の準位のエネルギーをε<SB>i2</SB>、第3の準位のエネルギーをε<SB>i3</SB>、N個の物理構造の中で|ε<SB>i3</SB>-ε<SB>i1</SB>|の最大値をmax(ε<SB>i31</SB> )、最小値をmin(ε<SB>i31</SB> )、N個の物理構造の中で|ε<SB>i3</SB>-ε<SB>i2</SB>|の最大値をmax(ε<SB>i32</SB> )、最小値をmin(ε<SB>i32</SB> )、前記第1のコヒーレント光の角周波数をω<SB>p</SB> 、ラビ周波数をΩp、前記第2のコヒーレント光の角周波数をω<SB>c</SB> 、ラビ周波数をΩcとしたときに、 min(ε<SB>i31</SB> )<hω<SB>p</SB> /2π<max(ε<SB>i31</SB> )、min(ε<SB>i32</SB> )<hω<SB>c</SB> /2π<max(ε<SB>i32</SB> )およびhΩc/2π<max(ε<SB>i31</SB> )-min(ε<SB>i31</SB> )の条件を満足し、前記固体中における前記第1のコヒーレント光の吸収および前記第1のコヒーレント光の吸収を介して生ずる前記固体の蛍光の少なくとも一方を、複数の(ω<SB>p</SB> ,ω<SB>c</SB> )組みについて計測することを特徴とする光学検出方法。