特許
J-GLOBAL ID：200903038680877621
自動分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山口 哲夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-333740
公開番号（公開出願番号）：特開平6-160400
出願日： 1992年11月20日
公開日（公表日）： 1994年06月07日
要約：
【要約】【目的】 測定データや反応タイムコースデータ及びトラブルデータ等をリアルタイムで外部コンピュータへと転送し、かつ、記憶保存できるように構成することで、データの集中管理や精度管理用データファイルの作成及び検査報告書の作成を迅速に行え、かつ、故障原因をリアルタイムで判読して解明できる。【構成】 測定に対応して上記各手段を有機的に作動させる指令信号が入力されたICカードと、該ICカードの指令信号を読み取るリーダー装置と、を有して構成されてなる自動分析装置を技術的前提とし、光学測定装置により分析され演算処理された測定データを、測定データを記憶保存するRAMCPUボード側とプリンタ側及び外部コンピュータに該測定データを転送するための外部出力端子側へ同時に出力するように構成した。
請求項（抜粋）：
複数のサンプルをサンプル吸引位置まで移送する手段と、該サンプル吸引位置で所要量のサンプルを吸引し反応容器に分注する手段と、該反応容器を光学測定位置まで順次移送する手段と、測定項目に対応する試薬を試薬容器内から上記反応容器へと分注する手段と、反応容器内の試料を光学的に測定する手段と、測定が終了した反応容器を洗浄する手段と、測定に対応して上記各手段を有機的に作動させる指令信号が入力されたICカードと、該ICカードの指令信号を読み取るリーダー装置と、を有して構成されてなる自動分析装置において、上記光学測定装置により分析され演算処理された測定データは、測定データを記憶保存するRAMCPUボード側とプリンタ側及び外部コンピュータに該測定データを転送するための外部出力端子側へ同時に出力されることを特徴とする自動分析装置。
引用特許：
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