特許
J-GLOBAL ID:200903038700115685

エレクトロスプレイ用カラム一体型チップ,エレクトロスプレイ用カラム一体型チップの製造方法、及び液体クロマトグラフ質量分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 作田 康夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-368258
公開番号(公開出願番号):特開2005-134168
出願日: 2003年10月29日
公開日(公表日): 2005年05月26日
要約:
【課題】 マイクロ〜ナノフロー流量での分析において感度向上及び再現性向上を行うことの出来る一体化チップ、及びこれを用いた液体クロマトグラフ質量分析計を提供する。【解決手段】 中空を有するキャピラリー、当該キャピラリーの中空部に充填形成されたサイズの異なるポアーが混在する多孔質体からなり、前記キャピラリー先端部にはコーティング膜が施され、且つ当該コーティング膜には前記多孔質体が露出する位置に開口が形成されるエレクトロスプレイ用カラム一体型チップである。また、このカラム一体型チップを用いたLC/MSを構成する。【効果】 ナノエレクトロスプレイ質量分析計においてしばしば発生するESIチップの先端部での目詰まりの可能性を低減できる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
中空を有するキャピラリー、当該キャピラリーの中空部に充填形成されたサイズの異なるポアーが混在する多孔質体からなり、 前記キャピラリー先端部にはコーティング膜が施され、且つ当該コーティング膜には前記多孔質体が露出する位置に開口が形成されることを特徴とするエレクトロスプレイ用カラム一体型チップ。
IPC (4件):
G01N30/72 ,  G01N27/62 ,  G01N30/48 ,  G01N30/60
FI (6件):
G01N30/72 G ,  G01N30/72 C ,  G01N27/62 V ,  G01N27/62 X ,  G01N30/48 G ,  G01N30/60 K
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (5件)
全件表示
引用文献:
前のページに戻る