特許
J-GLOBAL ID：200903038712931615
表面欠陥定量評価方法及び装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
八田 幹雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-134564
公開番号（公開出願番号）：特開2000-321037
出願日： 1999年05月14日
公開日（公表日）： 2000年11月24日
要約：
【要約】【課題】 樹脂成形品の表面欠陥を定量的に評価でき、かつ、その評価値を検査員の評価値と一致させ得る表面欠陥定量評価技術を提供する。【解決手段】 センサヘッド100でバンパー面上のストライプ画像をローアングルで撮像してパソコン300に取り込む。取り込んだストライプ画像(原画像)を二値化処理して二値画像を取得する。そして、二値画像を全行分横方向にFFT処理して二つの特徴量(パワースペクトルのピーク値、ピーク値を1として基準化したときのFFT結果のオーバーオール値)を抽出するとともに、二値画像をフィルタ処理して得られる画像に対して全行分の各ストライプ幅を求めてもう一つの特徴量(標準偏差と平均値の比)を抽出する。そして、得られた三つの特徴量に基づいてパンパー面の波打ちランク(表面欠陥の評価値)を判定する。
請求項（抜粋）：
被検査面と光軸とのなす角が所定の小さい角度となるように被検査面上に所定のストライプパターンを投影し、そのストライプパターンを正反射方向から撮像する工程と、撮像されたストライプパターンの画像を解析して、所定の特徴量を抽出する工程と、抽出された特徴量に基づいて、所定の評価式により、被検査面の表面欠陥の評価値を算出する工程と、を有することを特徴とする表面欠陥定量評価方法。
Fターム (19件)：
2F065AA46
, 2F065AA61
, 2F065BB13
, 2F065CC11
, 2F065DD03
, 2F065FF04
, 2F065HH05
, 2F065JJ03
, 2F065JJ16
, 2F065JJ26
, 2F065LL12
, 2F065LL28
, 2F065QQ04
, 2F065QQ23
, 2F065QQ24
, 2F065QQ26
, 2F065QQ27
, 2F065QQ31
, 2F065TT03
