特許
J-GLOBAL ID:200903038713841512

液体中のアナライト定量測定装置におけるサンプリング室の洗浄および較正方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 萩野 平 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-079309
公開番号(公開出願番号):特開平8-054366
出願日: 1985年03月28日
公開日(公表日): 1996年02月27日
要約:
【要約】 (修正有)【目的】 基準電極充填溶液または較正溶液を汚染することなくサンプリング室を迅速かつ効果的に洗浄しかつサンプリング室内の感知部分への較正溶液の導入を行う。【構成】 液体サンプルを通路45および第1サンプリング室47と基準電極室47Aとの間で合流する一方向弁を形成する第2通路212を有し、第2通路が液体サンプル以外の流体を維持した儘で前記液体サンプルを第1サンプリング室47から基準室47Aへ流入させかつ両者の電位が測定され、その後第2通路を維持したまま洗浄流体を第1通路に逆方向から流入させて液体サンプルを押し流し、更に、洗浄流体を第2通路から基準電極室を通ることなく前記第1サンプリング室に流入させ、最後に較正流体を第1サンプリング室から基準室へ逆流させ、両室の較正電位を測定する。
請求項(抜粋):
基準電極第2室を含んでいる第2モジュールユニットに隣接して位置決めされるモジュール測定室ユニット内に含まれる液体中のアナライト定量測定装置における第1サンプリング室を洗浄かつ較正する方法において、前記ユニットは前記室と前記ユニットとの間に通路を画成し、第2の一方向弁の通路は前記基準電極第2室と前記サンプリング室との間の前記通路と交差し、液体サンプルを前記通路を介して前記サンプリング室から前記基準室に通しそれにより電位の測定が前記サンプル以外の第2流体により充填された前記第2通路を維持しながら前記室間で行なわれることができ、流体で充填された前記第2通路を維持しながらサンプル流体を除去すべく前記サンプリング室を介して前記基準室から洗浄流体を通すことにより前記基準室とサンプリング室間の流体の流れを逆にし、洗浄液の流れが前記基準室に最初に通ることなく前記洗浄後の流れを前記第2通路を介して前記サンプリング測定室に通し、較正流体を前記サンプリング室から前記基準室へ再び通すべく流れを逆にする一方前記第2通路が静止流体を維持しそれにより較正測定が前記サンプリング室と前記基準室との間の電位を測定可能であることを特徴とする第1サンプリング室洗浄およひ較正方法。
IPC (4件):
G01N 27/28 321 ,  G01N 27/26 381 ,  G01N 27/38 301 ,  G01N 27/27

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