特許
J-GLOBAL ID：200903038717688573
スライス用装置のイールドモニターシステム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小田島 平吉
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-530535
公開番号（公開出願番号）：特表2003-511686
出願日： 2000年10月12日
公開日（公表日）： 2003年03月25日
要約：
【要約】該システムの1実施例に依れば、該システムは、少なくとも1つの製品入力スケール(12)と、該製品が該少なくとも1つの製品入力スケール上で重さを計られた後該製品をスライスするためのスライス機構(14)と、そして後処理重量を決定するために該スライス機構(14)によるスライス後該製品の重さを計ることが出来る少なくとも1つの製品出力スケール(16)とを含む。イールドモニター(30)は、該少なくとも1つの製品入力スケール(12)と該少なくとも1つの製品出力スケール(16)とにより重さを計られた製品の該重量に対応する重量情報を電子的に受信するよう接続される。該イールドモニター(30)はスクリーン(40)、プリントアウト、電子的データ、他...を介してユーザーにシステムイールドデータを提供するために該受信重量情報を使用する。好ましくは、該システムは又メークウエイトステーションに配置されたメークウエイトスケール(22)を含むのがよい。該メークウエイトスケール(22)はメークウエイトデータを該イールドモニター(30)へ電子的に通信するよう接続される。
請求項（抜粋）：
製品を処理するためのシステムに於いて、製品イールドをモニターするための方法が、 処理されるべき全製品の重量の測定値を得る過程と、 該製品を処理する過程と、 受け入れ可能に処理された全製品の重量の測定値を得る過程と、 該重量測定値を中央イールドモニターへ電子的に通信する過程と、 該イールドモニター内の電子的に通信された重量測定値の比較に基づいてイールドデータを計算する過程と、 該計算されたイールドデータをユーザーに提供する過程とを具備することを特徴とする製品を処理するためのシステムに於いて、製品イールドをモニターするための方法。
IPC (6件)：
G01G 13/24
, A22C 17/00
, B26D 3/28
, B26D 7/27
, B26D 7/30
, G01G 17/00
G01G 13/24 B
, A22C 17/00
, B26D 3/28
, B26D 7/27
, B26D 7/30
, G01G 17/00 C
2F046AA00
, 2F046DA07
, 2F046FA13
, 4B011EA05
