特許
J-GLOBAL ID：200903038753376243
紫外線吸収式測定装置および測定試料の処理方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
鈴木 崇生
, 梶崎 弘一
, 尾崎 雄三
, 谷口 俊彦
, 今木 隆雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-302606
公開番号（公開出願番号）：特開2004-138467
出願日： 2002年10月17日
公開日（公表日）： 2004年05月13日
要約：
【課題】別途検出器や処理部材を設置することなく、同一元素からなる異なった化合物の測定を容易にし、簡易な手段で共存成分の影響を受けない測定が可能な紫外線吸収式測定装置および測定試料の処理方法を提供することを目的とする。【解決手段】1の光源部、1または2以上の試料セル部、1または2以上の検出部からなる紫外線吸収式測定装置に関する発明であって、光源部からの光を試料に対し照射することによって、試料中の特定成分を異なった物質に変化させる処理を行うことを特徴とする。特に、NOをNO2 に変換してNOxをNDUV法で測定する場合などに非常に有効である。また、干渉影響の大きいNOをNO2 に変換してSO2 をNDUV法で測定する場合のように共存NOの影響を排除する手段としても適用可能である。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
1の光源部、1または2以上の試料セル部、1または2以上の検出部からなる紫外線吸収式測定装置であって、前記光源部からの光を試料に対し照射することによって、試料中の特定成分を異なった物質に変化させる処理を行った後、前記特定成分の変化後の物質の紫外線吸収量から、前記試料中の測定成分濃度を検出することを特徴とする紫外線吸収式測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (11件)：
2G059AA01
, 2G059BB01
, 2G059CC05
, 2G059DD12
, 2G059DD13
, 2G059EE01
, 2G059EE12
, 2G059HH03
, 2G059JJ02
, 2G059KK01
, 2G059MM01
