特許
J-GLOBAL ID：200903038754179794
複雑流体の局所粘弾性測定法及びその装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
平山 一幸 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-257295
公開番号（公開出願番号）：特開2003-065930
出願日： 2001年08月28日
公開日（公表日）： 2003年03月05日
要約：
【要約】【課題】 複雑な内部構造を持つ複雑流体のマイクロメーター寸法の局所的領域の粘弾性や、複雑流体のマイクロメーター領域の構造に関する知見を得る。【解決手段】 ナノメーター寸法のプローブ粒子を被測定複雑流体2中に混入し、入射光4と参照光5とを照射すると共にプローブ粒子に正弦波状電場を印加し、プローブ粒子の散乱光と参照光5とのヘテロダイン信号から正弦波状電場の周波数に関する基本波成分(ω0 )と高調波成分(2ω0 )とを取り出し、基本波成分と高調波成分をアナログ2乗演算し、アナログ2乗演算した基本波成分(2ω0 )と高調波成分(4ω0 )をロックイン・アンプ12で検出して複素電気泳動易動度の絶対値と遅延位相を求め、正弦波状電場の周波数に関する複素電気泳動易動度スペクトルを求め、被測定複雑流体の局所領域の粘弾性及び被測定複雑流体の構造に基づく特性長を求める。
請求項（抜粋）：
ナノメーター寸法のプローブ粒子を被測定複雑流体中に混入し、この被測定複雑流体に入射光と参照光とを照射すると共に上記プローブ粒子に正弦波状電場を印加し、上記プローブ粒子の散乱光と上記参照光との光ヘテロダイン信号を電気信号に変換し、この電気信号から正弦波状電場の周波数に関する基本波成分と高調波成分とを取り出し、この基本波成分と高調波成分のそれぞれをアナログ2乗演算し、このアナログ2乗演算された基本波成分と高調波成分をそれぞれロックイン検出して複素電気泳動易動度の絶対値と遅延位相を求め、上記正弦波状電場の各々の周波数における上記絶対値と遅延位相とから上記複素電気泳動易動度のスペクトルを求め、この複素電気泳動易動度スペクトルから上記被測定複雑流体の局所領域の粘弾性、及び上記被測定複雑流体の構造に基づく特性長を求めることを特徴とする、複雑流体の局所粘弾性測定法。
IPC (4件)：
G01N 11/00
, G01N 21/27
, G01N 21/49
, G01N 27/447
G01N 11/00 A
, G01N 21/27 H
, G01N 21/49 Z
, G01N 27/26 301 A
2G059AA03
, 2G059BB06
, 2G059BB09
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059CC19
, 2G059EE02
, 2G059FF04
, 2G059FF08
, 2G059FF09
, 2G059GG01
, 2G059GG03
, 2G059JJ22
, 2G059MM01
, 2G059MM03
