特許

J-GLOBAL ID：200903038862349795

傾斜端を有する光ファイバの角度パラメータの測定方法及び該方法の実施に使用する装置

発明者： 及川 陽一
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 松本 昂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-281758
公開番号（公開出願番号）：特開平6-129838
出願日： 1992年10月20日
公開日（公表日）： 1994年05月13日
要約：

【要約】【目的】傾斜端を有する光ファイバの角度パラメータの測定方法及び測定用装置に関し、測定の容易化及び高精度化を目的とする。【構成】その第1端部に傾斜端2Aを有する光ファイバ2の角度パラメータの測定方法であって、光ファイバ2の第2端部から測定光を入射させ、第1端部から出射した測定光を反射面14Aで反射させて反射測定光を第1端部から光ファイバ2に入射させ、第2端部から出射した反射測定光の強度を検出し、その強度変化を用いて光ファイバ2の角度パラメータを得るものである。

請求項（抜粋）：

その第1端部に傾斜端(2A)を有する光ファイバ(2) の角度パラメータの測定方法であって、上記光ファイバ(2) の第2端部から上記光ファイバ(2) に測定光を入射させ、上記第1端部から出射した上記測定光を反射面(14A) で反射させ、該反射面(14A) での反射光である反射測定光を上記第1端部から上記光ファイバ(2) に入射させ、上記第2端部から出射した上記反射測定光の強度を検出し、上記光ファイバ(2) と上記反射面(14A) の相対的位置関係の変化に従って変化する上記反射測定光の強度に基づき上記光ファイバ(2) の角度パラメータを得ることを特徴とする方法。

IPC (3件)：

G01B 11/26 ,  G02B 6/24 ,  G02B 6/42