特許
J-GLOBAL ID：200903038867612044
穀粒品位測定方法及びその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-200673
公開番号（公開出願番号）：特開2000-180369
出願日： 1999年07月14日
公開日（公表日）： 2000年06月30日
要約：
【要約】【課題】検査員の目視検査に委ねられていた形質検査を可能にした穀粒品位測定装置を提供すると共に、穀粒品位測定装置の測定精度を向上させる。【解決手段】穀粒を配列移送する円盤4と、移送される穀粒に光を照射する光源13,14と、穀粒の反射光と透過光を含む平面情報を取得する受光センサ-11と、穀粒の側面情報を取得する受光センサ-12と、前記各受光センサ-11,12が接続され各受光センサ-11,12で取得した平面情報と側面情報の信号を処理する画像処理部18と、該画像処理部18により処理された情報を含む穀粒の品位に関係する情報と予め定めた判別基準に基づいて穀粒の品位を判別する演算制御部17とを備える穀粒品位測定装置とした。
請求項（抜粋）：
移送される穀粒に光を照射して、穀粒の平面から複数画素による反射光と透過光とを含む平面情報を取得する工程と、穀粒の側面から複数画素による反射光を含む側面情報を取得する工程と、平面情報のうち反射光から穀粒の色彩情報を得る工程と、平面情報のうち透過光から穀粒の長さと幅の情報と透過光量値を得る工程と、側面情報のうち反射光から穀粒の厚みの情報を得る工程と、前記各情報から穀粒の品位と形質を判別する工程とを備えることを特徴とする穀粒品位測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/85 A
, G01B 11/02 H
