特許
J-GLOBAL ID：200903038878547406
コンデンサの絶縁抵抗測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
筒井 秀隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-151198
公開番号（公開出願番号）：特開2000-081456
出願日： 1999年05月31日
公開日（公表日）： 2000年03月21日
要約：
【要約】【課題】コンデンサへの測定端子の接触回数を少なくでき、かつ測定に必要な回路を簡素化できるコンデンサの絶縁抵抗測定方法を提供する。【解決手段】コンデンサに直流電圧を印加して予備充電を行い、その後で測定電圧を印加し、コンデンサに流れる充電電流から絶縁抵抗を測定する。予備充電の期間をコンデンサの容量C0 の充電を行なう期間とし、予備充電の終了から測定電圧の印加までの期間をオープン状態として自己充電を行う。自己充電の期間中にコンデンサの誘電分極成分Dが自己充電される。
請求項（抜粋）：
コンデンサに直流電圧Epを印加して予備充電を行い、その後で測定電圧Emを印加し、コンデンサに流れる充電電流から絶縁抵抗を測定する方法において、上記予備充電の終了から測定電圧Emの印加までの期間をオープン状態として自己充電を行うことを特徴とする絶縁抵抗測定方法。
IPC (2件)：
G01R 27/02
, H01G 13/00 361
G01R 27/02 R
, H01G 13/00 361 Z
