特許
J-GLOBAL ID：200903038974870889
自動テスト装置用イベントシーケンサ
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小橋 一男 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-224453
公開番号（公開出願番号）：特開平6-094796
出願日： 1991年09月04日
公開日（公表日）： 1994年04月08日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 集積回路をテストするための改良された自動テスト装置を提供すること。【構成】 テスト中の装置24の各ピンに対して1個づつ多数のローカルシーケンサ20が設けられている。各ローカルシーケンサは、グローバルクロック14と、テストの開始を参照するクロックエッジを表わすグローバル時間0信号16と、テスト期間の開始に対しクロックからのオフセットを表わす期間バーニア18とが供給される。各ローカルシーケンサは、この情報を使用して、局所的に個々のキャリブレーション遅延を導入してテスト期間を基準とするそれ自身のテストイベントを発生する。各ローカルシーケンサは、個別的にプログラムすることが可能であり、従って異なったシーケンサは同一のテスト期間中に異なった数のイベントを与えることが可能である。
請求項（抜粋）：
集積回路をテストするテストシステムにおいて、(a)クロック信号発生器を具備すると共にテストシーケンスの開始を表わすためにクロック信号を使用して時間0信号を発生する手段を具備するグローバルシーケンサが設けられており、(b)複数個のテストサイクルの各々の開始に対して前記クロック信号からのオフセットを表わす期間バーニア値を発生する手段が設けられており、(c)複数個のローカルシーケンサが設けられており、前記各ローカルシーケンサは前記集積回路の別個のリードへ結合されており、各ローカルシーケンサが、前記クロック信号及び前記期間バーニア値に応答し前記テストサイクルが前記クロック信号の倍数である必要がないように前記期間バーニア値によって画定されるテストサイクル内で前記ピンに対する信号におけるエッジを発生する手段を有することを特徴とするテストシステム。
引用特許：
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