特許
J-GLOBAL ID：200903039056121799
光損失原因の探知方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
国平 啓次
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-109303
公開番号（公開出願番号）：特開平5-281087
出願日： 1992年04月02日
公開日（公表日）： 1993年10月29日
要約：
【要約】【目的】 光ファイバ線路に発生する?@断線、?A曲げやマイクロベンドによる損失増、?B水の浸透による損失増などは、OTDR装置によって知ることができる。しかし上記の?Aと?Bは原因の判別が難しかった。この課題を解決する。【構成】 波長が1.38μm近傍の光とこれよりも長波側(たとえば1.65μm)の光とを同時に用い、これらによるOEDR波形を比較する。1.38μm近傍の光は、水分のOH基に対して特に減衰が大きい。そこで、水が浸透した場合は、1.38μm試験光のOTDR波形の方が、1.65μmのOTDR波形より大きい損失を示す。しかし曲げを受けた場合は、長波長の方が大きい損失を示す。これらのことから損失増の原因が分かる。
請求項（抜粋）：
被測定ファイバに対し少なくとも2種類の異なる測定波長の光でOTDR測定を行い、これらOTDR波形を比較することにより光損失の発生原因を探知することを特徴とする、光損失原因の探知方法。
IPC (2件)：
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