特許
J-GLOBAL ID：200903039080531809
光学部品の特性測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-361679
公開番号（公開出願番号）：特開平6-201515
出願日： 1992年12月28日
公開日（公表日）： 1994年07月19日
要約：
【要約】【目的】 励起光源1の光を希土類ドープファイバ2に入射し、希土類ドープファイバ2から出射する自然放出光を被測定物3の光源とすることにより、光学部品の光学特性を高精度で測定する【構成】 励起光源1の光を希土類ドープファイバ2に入射する。希土類ドープファイバ2は励起光源1の光により励起され自然放出光を放出する。希土類ドープファイバ2の自然放出光を被測定物3に入射し、被測定物3の光学特性に応じた出力を測定器4で測定する。
請求項（抜粋）：
励起光源(1) の光を希土類ドープファイバ(2) に入射し、希土類ドープファイバ(2) は励起光源(1) の光により励起されて自然放出光を放出し、希土類ドープファイバ(2) の自然放出光を被測定物(3) に入射し、被測定物(3) の光学特性に応じた出力を測定器(4) で測定することを特徴とする光学部品の特性測定方法。
引用特許：
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